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成都中冷低溫科技有限公司
  • 搭配Keysight功率器件測(cè)試方案高低溫沖擊

    搭配Keysight功率器件測(cè)試方案高低溫沖擊 ，，高低溫沖擊氣流儀TS系列+TCU800P高溫?zé)崤_(tái)搭配是德B1500系列功率分析儀進(jìn)行功率器件高低溫測(cè)試。

    型號(hào)： 所在地：成都市參考價(jià)： ￥11111更新時(shí)間：2024/11/5 17:26:16 對(duì)比
    熱流儀高低溫沖擊Keysight功率器件測(cè)試方案
  • 絕緣電阻劣化評(píng)估系統(tǒng) HAST試驗(yàn)箱

    絕緣電阻劣化評(píng)估系統(tǒng) HAST試驗(yàn)箱，絕緣電阻劣化（離子遷移）測(cè)試系統(tǒng)搭配HAST高加速老化試驗(yàn)箱，可高精度連續(xù)監(jiān)測(cè)，快捷評(píng)估因離子遷移現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻...

    型號(hào)： 所在地：成都市參考價(jià)： ￥11111更新時(shí)間：2024/11/5 16:51:22 對(duì)比
    CAF測(cè)試系統(tǒng)桌面式溫度迫使系統(tǒng)高加速壽命試驗(yàn)箱HAST
  • HAST高加速壽命試驗(yàn)箱

    HAST高加速壽命試驗(yàn)箱，HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力的各種條...

    型號(hào)： 所在地：成都市參考價(jià)： ￥11111更新時(shí)間：2024/11/5 16:50:52 對(duì)比
    CAF測(cè)試系統(tǒng)桌面式溫度迫使系統(tǒng)高加速壽命試驗(yàn)箱HAST
  • HAST高加速應(yīng)力試驗(yàn)系統(tǒng)加速高溫高濕偏壓

    HAST高加速應(yīng)力試驗(yàn)系統(tǒng)加速高溫高濕偏壓，HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、...

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    高加速應(yīng)力試驗(yàn)系統(tǒng)加速高溫高濕偏壓高加速壽命試驗(yàn)箱HAST
  • PCB離子遷移測(cè)試 試驗(yàn)箱

    PCB離子遷移測(cè)試 試驗(yàn)箱，PCB離子遷移，簡(jiǎn)稱CAF。離子遷移是指在印刷電路板等產(chǎn)品上，由于離子化金屬向相反電極移動(dòng)，在相對(duì)電極還原成原來的金屬并有析出的現(xiàn)象...

    型號(hào)： 所在地：成都市參考價(jià)： ￥11111更新時(shí)間：2024/11/5 16:47:43 對(duì)比
    PCB離子遷移測(cè)試桌面式溫度迫使系統(tǒng)高加速壽命試驗(yàn)箱HAST
  • 高加速老化HAST箱HAST測(cè)試機(jī)Burn-in Oven

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    型號(hào)： 所在地：成都市參考價(jià)： ￥11111更新時(shí)間：2024/11/5 16:46:48 對(duì)比
    Burn-in OvenHAST箱HAST測(cè)試機(jī)高加速老化
  • HAST測(cè)試機(jī)Burn-in Chamber老化測(cè)試試驗(yàn)箱

    HAST測(cè)試機(jī)Burn-in Chamber老化測(cè)試試驗(yàn)箱，HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)...

    型號(hào)： 所在地：成都市參考價(jià)： ￥11111更新時(shí)間：2024/11/5 16:46:19 對(duì)比
    Burn-in ChamberHAST箱HAST測(cè)試機(jī)高加速老化老化測(cè)試
  • 半導(dǎo)體芯片HAST測(cè)試高加速老化測(cè)試機(jī)

    半導(dǎo)體芯片HAST測(cè)試高加速老化測(cè)試機(jī)，HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度...

    型號(hào)： 所在地：成都市參考價(jià)： ￥11111更新時(shí)間：2024/11/5 16:45:50 對(duì)比
    Burn-in Chamber半導(dǎo)體芯片HAST測(cè)試機(jī)高加速老化老化測(cè)試
  • IGBT-HAST試驗(yàn)箱 高加速老化測(cè)試機(jī)

    IGBT-HAST試驗(yàn)箱 高加速老化測(cè)試機(jī)，HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、...

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    IGBT-HASTHAST試驗(yàn)箱HAST測(cè)試機(jī)高加速老化老化測(cè)試
  • 導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng) HAST試驗(yàn)箱

    導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng) HAST試驗(yàn)箱，導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)可與zonglen HAST高加速老化試驗(yàn)箱配合使用，主要用于產(chǎn)品導(dǎo)通電阻性能驗(yàn)證。更好的保證您PCB檢測(cè)的精...

    型號(hào)： 所在地：成都市參考價(jià)： ￥11111更新時(shí)間：2024/11/5 16:41:28 對(duì)比
    導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)高加速壽命試驗(yàn)箱HAST
  • CAF測(cè)試系統(tǒng) HAST高加速壽命試驗(yàn)箱

    CAF測(cè)試系統(tǒng) HAST高加速壽命試驗(yàn)箱，CAF是指印制線路板內(nèi)部在電場(chǎng)作用下跨越非金屬基材而遷移傳輸?shù)膶?dǎo)電性金屬鹽構(gòu)成的電化學(xué)遷移。它通常發(fā)生在印制線路板基材...

    型號(hào)： 所在地：成都市參考價(jià)： ￥11111更新時(shí)間：2024/11/5 16:40:43 對(duì)比
    CAF測(cè)試系統(tǒng)桌面式溫度迫使系統(tǒng)高加速壽命試驗(yàn)箱HAST
  • zonglen HAST高加速壽命試驗(yàn)箱

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    zonglen桌面式溫度迫使系統(tǒng)高加速壽命試驗(yàn)箱HAST
  • zonglen高加速老化HAST箱HAST測(cè)試機(jī)

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    Burn-in OvenHAST箱HAST測(cè)試機(jī)高加速老化
  • HAST高加速壽命偏壓老化試驗(yàn)箱

    HAST高加速壽命偏壓老化試驗(yàn)箱，HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力...

    型號(hào)： 所在地：成都市參考價(jià)： ￥11111更新時(shí)間：2024/11/5 16:34:27 對(duì)比
    IGBT-HASTHAST試驗(yàn)箱HAST測(cè)試機(jī)高加速老化偏壓老化試驗(yàn)箱
  • BiasHAST高加速壓力測(cè)試系統(tǒng)

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    型號(hào)： 所在地：成都市參考價(jià)： ￥11111更新時(shí)間：2024/11/5 16:25:42 對(duì)比
    BiasHAST高加速壓力測(cè)試系統(tǒng)HAST測(cè)試機(jī)高加速老化偏壓老化試驗(yàn)箱
  • 半導(dǎo)體芯片BiasHAST測(cè)試

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  • PCB老化試驗(yàn)箱半導(dǎo)體芯片BiasHAST測(cè)試

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    BiasHASTPCB老化試驗(yàn)箱HAST測(cè)試機(jī)高加速老化半導(dǎo)體芯片
  • HAST工業(yè)用高加速壽命老化試驗(yàn)箱

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    zonglen桌面式溫度迫使系統(tǒng)高加速壽命試驗(yàn)箱HAST工業(yè)用高加速壽命老化試驗(yàn)箱
  • BiasHAST高加速壓力立式偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)

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  • HAST高加速老化試驗(yàn)箱

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    型號(hào)： 所在地：成都市參考價(jià)： ￥11111更新時(shí)間：2024/11/5 16:12:01 對(duì)比
    IGBT-HASTHAST試驗(yàn)箱HAST測(cè)試機(jī)高加速老化偏壓老化試驗(yàn)箱
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