絕緣電阻劣化評估系統(tǒng) HAST試驗(yàn)箱

絕緣電阻劣化評估系統(tǒng) HAST試驗(yàn)箱，絕緣電阻劣化（離子遷移）測試系統(tǒng)搭配HAST高加速老化試驗(yàn)箱，可高精度連續(xù)監(jiān)測，快捷評估因離子遷移現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問題。

絕緣電阻劣化評估系統(tǒng) HAST試驗(yàn)箱

隨著電子設(shè)備在智能化的方向及小型化、輕量化發(fā)展，印制線路板的線路也越來越細(xì)，間距越來越小，絕緣層越來越薄，鉆孔尺寸也向更小更密的方向發(fā)展，并且由于信息傳輸速度的提升，使得印制板所承受的工作溫度也在不斷地上升。因此，在印制線路板的質(zhì)量與可靠性測試中，CAF的測試也就變得越來越重要。

絕緣電阻劣化評估系統(tǒng) HAST試驗(yàn)箱

絕緣電阻劣化測試系統(tǒng)特點(diǎn)：

1.高精準(zhǔn)測量

2.專業(yè)的工程技術(shù)能力支持

3.可靈活地同溫濕度環(huán)境試驗(yàn)箱，HAST箱，PCT等設(shè)備配合測試。

主要用途

助焊劑、印刷電路板、光刻膠、釬料、樹脂、導(dǎo)電膠等有關(guān)印刷電路板、高密度封裝的材料

BGA、CSP等精細(xì)節(jié)距IC封裝件

有機(jī)半導(dǎo)體相關(guān)

電容、連接器等其他電子元器件及材料

各種絕緣材料的吸濕性特性評估