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日立球差校正透射電子顯微鏡HF-5000

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱長沙科美分析儀器有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地長沙市
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時間2024/2/26 15:03:36
  • 訪問次數(shù)342
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長沙科美分析儀器有限公司是2003年由湖南省中醫(yī)藥研究院科研骨干王治國助理研究員創(chuàng)建的的代理銷售國內(nèi)外色譜、質(zhì)譜、光譜品牌儀器及附屬設備和耗材的專業(yè)分析儀器公司,公司現(xiàn)有員工15人,下設精密儀器銷售部、通用儀器銷售部、零配件供應部和技術(shù)服務部,公司擁有獨立進出口權(quán),代理進口各類實驗室儀器設備。公司服務于湖南省制藥行業(yè)16年,與各級藥品食品檢測機構(gòu)、醫(yī)藥有關(guān)科研院所和眾多藥品食品生產(chǎn)企業(yè)建立了緊密的合作關(guān)系,贏得了良好的市場信譽,也取得了較好的經(jīng)濟效益。公司自成立之日起,便矢志追求這樣的理想—我們銷售給客戶的不僅僅是公司代理的產(chǎn)品,更重要的是為我們的客戶提供符合其分析目的要求、滿足其發(fā)展需要和節(jié)約其購買經(jīng)費的個性化服務方案,將性、配套性、實用性、經(jīng)濟性以及儀器使用維護成本綜合考慮,通過提供優(yōu)質(zhì)的售后維護、零配件供應保障和強大的應用技術(shù)支持服務,讓客戶買得起儀器,用得上儀器,也用得起儀器,將儀器有效性能的潛力和能夠創(chuàng)造的效益發(fā)揮出來,也就是說,我們要將銷售服務延續(xù)到儀器的后續(xù)持續(xù)使用的過程中。為客戶創(chuàng)造價值被視為科美公司的立命之本、存活之源,我們把人生價值的自我實現(xiàn)落實到高水準的專業(yè)素養(yǎng)、熱情周到的服務態(tài)度以及精誠合作的團隊意識上,懷著“科技報效祖國,知識服務人民”的創(chuàng)業(yè)初衷,愿與各界新老朋友攜手努力,為推動湖南省分析儀器市場的繁榮和分析水準的提高做出不懈的努力。
潔凈工作臺、試驗箱、分析儀
日立球差校正透射電子顯微鏡HF-5000,是日立的200kV球差校正場發(fā)射透射電鏡,采用冷場發(fā)射電子槍和全自動化的球差校正技術(shù),在保證超高分辨率的同時大大簡化操作,實現(xiàn)高分辨觀察與易用性的*結(jié)合。HF-5000同樣具有超高空間分辨率的分析能力,配合電子能量損失譜(EELS)和大面積無窗能譜(EDS)可以對原子級圖像進行觀察和分析,是材料微觀結(jié)構(gòu)研究的Z佳工具。
日立球差校正透射電子顯微鏡HF-5000 產(chǎn)品信息

日立球差校正透射電子顯微鏡HF-5000

產(chǎn)品介紹:

HF-5000是日立的200kV球差校正場發(fā)射透射電鏡,采用冷場發(fā)射電子槍和全自動化的球差校正技術(shù),在保證超高分辨率的同時大大簡化操作,實現(xiàn)高分辨觀察與易用性的*結(jié)合。HF-5000同樣具有超高空間分辨率的分析能力,配合電子能量損失譜(EELS)和大面積無窗能譜(EDS)可以對原子級圖像進行觀察和分析,是材料微觀結(jié)構(gòu)研究的工具。

 

日立球差校正透射電子顯微鏡HF-5000主要特點:

日立研發(fā)的全自動STEM球差校正器

高穩(wěn)定、高亮度的冷場發(fā)射電子槍

TEM、STEM、SEM三位一體

大面積、大固體角的無窗能譜儀

全新設計的鏡筒和高壓系統(tǒng)

全新設計的保護罩和熒光屏相機

高穩(wěn)定性側(cè)插樣品桿

兼容日立的特殊樣品桿和FIB系統(tǒng)

 

技術(shù)參數(shù):

項目主要參數(shù)
電子槍冷場發(fā)射電子槍
加速電壓60-200kV
TEM點分辨率0.23nm
HAADF-STEM分辨率0.078nm
能譜無窗SDD能譜,2 x 100mm2,固體角2.0 Sr
電子能量損失譜Gatan GIF Quantum or Enfinium spectrometer
圖像模式TEM明場像、BF-STEM明場像、ABF-STEM環(huán)形暗場像、HAADF-STEM高角度環(huán)形暗場像、二次電子像、電子衍射花樣、特征X射線像(可選)、EELS像(可選)

 

應用領(lǐng)域:

HF-5000作為一款球差校正冷場發(fā)射透射電鏡,其分辨率達到了亞埃級,可以實現(xiàn)對樣品的超細微觀結(jié)構(gòu)的觀察和分析,適用于金屬、陶瓷、半導體、納米材料等的觀察。同時,HF-5000的TEM、STEM、SEM三位一體功能不僅可以實現(xiàn)對材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)的研究,也可以獲得材料表面的信息。原子級分辨率的二次電子探測器可以彌補TEM和STEM無法觀察樣品表面的缺陷,同時相比普通的SEM又具有更高的分辨率,可以滿足樣品表面高分辨形貌和結(jié)構(gòu)觀察的需求,與TEM和STEM形成互補。全自動化的球差校正過程又大大簡化了球差校正透射電鏡的使用難度,提高了觀察效率,尤其適合測試平臺和科研中心等用戶。

關(guān)鍵詞:電子顯微鏡 顯微鏡
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