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CEM3000系列高易用性掃描電鏡高易用性快速成像、一鍵成片，無需過多人工調(diào)節(jié)。具有出色的電子光學(xué)系統(tǒng)，優(yōu)于4nm的空間分辨率，保證了高放大倍數(shù)下的清晰成像，能...
CEM3000系列鎢燈絲掃描電子顯微鏡外型緊湊，空間適用性強(qiáng)，整機(jī)采用大量的抗干擾設(shè)計(jì)，避免使用環(huán)境造成的影響，拓寬了應(yīng)用范圍。同時(shí)，該系列臺(tái)式電鏡具有非常豐富...
SuperViewW白光干涉三維光學(xué)形貌儀具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)短，確保了高款率檢測(cè)。白光干涉儀...
CEM3000系列國(guó)內(nèi)高分辨力掃描電鏡用于對(duì)樣品進(jìn)行微觀尺度形貌觀測(cè)和分析。儀器空間分辨率出色和易用性強(qiáng)，用戶能夠非常快捷地進(jìn)行各項(xiàng)操作。甚至在自動(dòng)程序的幫助下...
VT6000系列白光干涉共聚焦顯微鏡一般用于略粗糙度的工件表面的微觀形貌檢測(cè)，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等參數(shù)。儀器的隔震設(shè)計(jì)能夠消減底面振動(dòng)噪聲，儀器在部分...
中圖儀器NS系列膜厚臺(tái)階儀線性可變差動(dòng)電容傳感器（LVDC），具有亞埃級(jí)分辨率，13μm量程下可達(dá)0.01埃。高信噪比和低線性誤差，使得產(chǎn)品能掃描到幾納米至幾百...
中圖儀器SuperViewW桌面式白光干涉光學(xué)輪廓儀以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像。它...
CEM3000桌面式能譜掃描電子顯微鏡讓復(fù)雜的掃描電鏡使用過程變得簡(jiǎn)單快捷。樣品一鍵裝入，自動(dòng)導(dǎo)航和一鍵出圖能力（自動(dòng)聚焦+自動(dòng)消像散+自動(dòng)亮度對(duì)比度）幫助用戶...
CEM3000系列臺(tái)式鎢燈絲掃描電鏡用于對(duì)樣品進(jìn)行微觀尺度形貌觀測(cè)和分析。臺(tái)式電鏡緊湊的外型，CEM3000系列臺(tái)式掃描電鏡能夠不受場(chǎng)地尺寸制約，真正做到了空間...
NS系列軟膜材料臺(tái)階高度儀采用LVDC電容傳感器，具有的亞埃級(jí)分辨率和超微測(cè)力等特點(diǎn)。它是利用光學(xué)干涉原理，通過測(cè)量膜層表面的臺(tái)階高度來計(jì)算出膜層的厚度，可以測(cè)...
中圖儀器優(yōu)于4nm(SE)國(guó)產(chǎn)掃描電鏡憑借其簡(jiǎn)便的操作系統(tǒng)，讓復(fù)雜的掃描電鏡使用過程變得簡(jiǎn)單快捷。樣品一鍵裝入，自動(dòng)導(dǎo)航和一鍵出圖能力（自動(dòng)聚焦+自動(dòng)消像散+自...
CEM3000系列超清掃描顯微鏡在工業(yè)領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛的應(yīng)用價(jià)值，標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng)，能滿足用戶對(duì)多類型樣品的...
不同于立式電鏡，CEM3000系列國(guó)產(chǎn)掃描電子顯微鏡無需占據(jù)大量空間來容納整個(gè)電鏡系統(tǒng)，這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊實(shí)時(shí)呈現(xiàn)所得結(jié)果。
中圖儀器鎢燈絲掃描電鏡CEM3000系列無需占據(jù)大量空間來容納整個(gè)電鏡系統(tǒng)，這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊實(shí)時(shí)呈現(xiàn)所得結(jié)果。此外，該系列臺(tái)...
NS系列國(guó)產(chǎn)高精度臺(tái)階儀采用了線性可變差動(dòng)電容傳感器LVDC，具備超微力調(diào)節(jié)的能力和亞埃級(jí)的分辨率，同時(shí)，其集成了超低噪聲信號(hào)采集、超精細(xì)運(yùn)動(dòng)控制、標(biāo)定算法等核...
中圖儀器VT6000系列3D高精度共聚焦顯微鏡集成X\\Y\\Z三個(gè)方向調(diào)整功能的操縱手柄，可快速完成載物臺(tái)平移、Z向聚焦等測(cè)量前工作。儀器以轉(zhuǎn)盤共聚焦光學(xué)系統(tǒng)...
CEM3000系列高分辨率SEM掃描電鏡用于對(duì)樣品進(jìn)行微觀尺度形貌觀測(cè)和分析。它空間分辨率出色和易用性強(qiáng)，用戶能夠非常快捷地進(jìn)行各項(xiàng)操作。甚至在自動(dòng)程序的幫助下...
SuperViewW系列白光干涉三維光學(xué)輪廓儀以3D非接觸方式，測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。它是以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模...
SuperVirewW白光干涉表面3D輪廓儀具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)短，確保了高款率檢測(cè)。白光干涉...
SuperViewW1白光干涉三維表面測(cè)量系統(tǒng)廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測(cè)、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件...
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