艾思荔芯片高低溫測試設(shè)備(/熊)適用范圍：溫度循環(huán)(temperature cycling)應(yīng)力篩選是產(chǎn)品在設(shè)計(jì)強(qiáng)度極限下，運(yùn)用溫度加速技巧(在上、下限極值溫度內(nèi)進(jìn)行循環(huán)時，產(chǎn)品產(chǎn)生交替膨脹和收縮)改變外在環(huán)境應(yīng)力，使產(chǎn)品中產(chǎn)生熱應(yīng)力和應(yīng)變，透過加速應(yīng)力來使?jié)摯嬗诋a(chǎn)品的瑕疵浮現(xiàn)[潛在零件材料瑕疵、制程瑕疵、工藝瑕疵]，以避免該產(chǎn)品于使用過程中，受到環(huán)境應(yīng)力的考驗(yàn)時而導(dǎo)致失效，造成不必要的損失，對于提高產(chǎn)品出貨良率與降低返修次數(shù)有顯著的效果，另外應(yīng)力篩本身是一種制程階段的過程，而不是一種可靠度試驗(yàn)，所以應(yīng)力篩選是*對產(chǎn)品進(jìn)行的程序、

　　金屬等各行業(yè)。

　　芯片高低溫測試設(shè)備溫度范圍：www.lrcjy。。ｃｏｍ

　　◆溫度范圍：-20～+150℃ -40～+150℃ -60～+150℃ -70～+150℃ 等不同的級別試驗(yàn)溫度要求。

　　◆溫度波動度：≤±0.5℃(可根據(jù)用戶需求提高至0.1℃)

　　◆溫度均勻度：≤±2℃(可根據(jù)用戶需求提高至0.5℃)

　　◆濕度范圍：30%～98%R.H(可按客戶要求定做)www.zjpct。。ｃｏｍ

　　◆濕度誤差：≤+2%/-3%R.H

　　◆升溫時間：2-3℃/min(可根據(jù)用戶需求提高至10℃以上)

　　◆降溫時間：0.7-1℃/min(可根據(jù)用戶需求提高至10℃以上)

　　◆噪音：(dB)≤65

　　芯片高低溫測試設(shè)備特點(diǎn)：www.lrcjsyx。。ｃｎ

　　1.箱體采用數(shù)控機(jī)床加工成型，造型美觀大方、新穎并采用無反作用把手，操作簡便。

　　2.箱體內(nèi)膽采用進(jìn)口高級不銹鋼(SUS304)鏡面板或304B氬弧焊制作而成，箱體外膽采用 A3鋼板噴塑。

　　3.步入式高低溫交變試驗(yàn)室采用微電腦溫度濕度控制器，控溫控濕精確可靠。(日本OYO儀表)

　　4.設(shè)有大型觀測視窗附照明燈保持箱內(nèi)明亮，且采用雙層玻璃，隨時清晰的觀測箱內(nèi)狀況。

　　5.恒溫恒濕箱*獨(dú)立限溫報(bào)警系統(tǒng)，超過限制溫度即自動中斷，保證實(shí)驗(yàn)安全運(yùn)行不發(fā)生意外。

　　6.可選配記錄儀，打印機(jī)能打印記錄設(shè)定參數(shù)和掃描出溫濕度變化曲線，4～20mA標(biāo)準(zhǔn)信 號。

　　7.箱體左側(cè)配直徑50mm的測試孔。

　　芯片高低溫測試設(shè)備滿足標(biāo)準(zhǔn)：www.lrcjsyx。。ｃｏｍ

　　1、GB/T10586-1989濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件;

　　2、GB2423、3-93(IEC68-2-3)恒定濕熱試驗(yàn)Ca;

　　3、GJB150、9-8 濕熱試驗(yàn);

　　4、硅晶太陽能:IEC61215、UL1703、GB9535

　　5、薄膜太陽能:IEC61646 、GB18911

　　6、聚光太陽能:IEC62108 、IEEE1513

　　芯片高低溫測試設(shè)備用途：www.asli163。。ｃｎ

　　芯片高低溫測試設(shè)備又名高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱，能模擬各種環(huán)境狀態(tài)下，試驗(yàn)各種產(chǎn)品及原材料耐干、耐低溫、耐熱、耐潮濕的性能，高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱應(yīng)用行業(yè)：芯片高低溫測試設(shè)備適用于電子、電器、造紙、食品、醫(yī)藥、印刷

　　鄭重承諾!：艾思荔芯片高低溫測試設(shè)備1年免費(fèi)保修，免費(fèi)送貨上門，免費(fèi)安裝調(diào)試及操作技術(shù)培訓(xùn)?！犊砂纯蛻粢罅可碛喼?，訂購：熊》

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